FEI France

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10 place Charles Béraudier
69428 Lyon cedex 03, France
 
Tél : 01 73 03 65 26
Email : feifrance@fei.com
Site internet : www.fei.com

Société et produits exposés

Semi-conducteurs et supports de stockage de données
Caractérisation, analytique et données de métrologie de qualité supérieure pour un développement plus rapide, de meilleurs rendements et des déviations de procédés moins fréquentes.

Recherche
Série d’outils aux performances les plus poussées de FEI permettant d’imager, caractériser, analyser et manipuler des objets de taille subatomique pour des données d’échantillons quantitatives.

Biologie et sciences de la vie
Les solutions d’imagerie robustes donnent des résultats époustouflants dans les technologies d’imagerie de particules et d’analyse structurale et fonctionnelle.

Industrie
De la préparation d’échantillons à la caractérisation par imagerie et aux expériences dynamiques, les outils FEI permettent aux sociétés de créer des produits plus résistants, plus efficaces et de meilleure qualité.

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Exposant(s)

inscription exposant 226

Mr Jean-Jacques DUPUY
Ingénieur d'affaires - FEI France
Tél : 04 72 11 46 60 - Mobile : 06 80 11 48 51
email : jean-jacques.dupuy@fei.com

inscription exposant 246

Mr Hans KEMPENEERS
Ingénieur des ventes - FEI France
Tél : +32 477 255018 - email : hans.kempeneers@fei.com

inscription exposant 248

Mr Hervé MACE
Ingénieur d'affaires - FEI France
Mobile : 06 71 45 51 61
email : herve.mace@fei.com

inscription exposant 247

Mr Olivier MESSAGER
Ingénieur des ventes - FEI France
Tél : 01 45 20 18 26 - Mobile : 06 79 72 01 79
email : olivier.messager@fei.com

inscription exposant 651

Mr Alberto TINTI
Sales manager - FEI France
Tél : +33 1 73 03 65 26 - Mobile : +39335464970
email : alberto.tinti@fei.com

Contribution(s) orale(s)

contribution exposant

Titre : Very low damage thin sample preparation for HRTEM - the usecase of the LaB6 emitter failure analysis
Orateur : Laurent ROUSSEL (FEI Company)
Proposé par : FEI France