Exposition Scientifique

7 Millennium Way
Springvale Business Park
BT12 7AL Belfast, Northern Ireland
 
Tél : +44 28 9023 7126
Email : E.McClintock@andor.com
Site internet : www.andor.com

Société et produits exposés

Andor Technology, fabricant de caméras numériques hautes performances pour la recherche scientifique est un leader européen pour les applications d’imagerie et de spectroscopie. Pionnier de la technologie EMCCD, Andor a mis son savoir-faire au service de la microscopie confocal rapide avec un système de Nipkow baptisé Revolution.

Le système Andor Revolution combine la rapidité et la sensibilité des caméras EMCCD iXon+ avec la résolution de la tête confocale de Yokogawa. La station confocal comprend également un combineur de laser à état solide lui aussi conçu et fabriqué par Andor et associant jusqu'à cinq longueurs d’ondes différentes ainsi que toute une gamme d’accessoires, comprenant notamment un choix de platines piézo-électriques. L’ensemble est piloté et synchronisé avec précision par le logiciel Andor iQ qui permet de tirer les meilleures performances des composants du système. Andor Revolution est système d’imagerie confocale rapide qui combine les meilleures technologies disponibles sur le marché en un seul instrument, facile à utiliser, quasiment sans maintenance et évolutif. D’ailleurs un module FRAP vient tout juste de sortir pour le compléter.

D’autre part, Andor a également mis la technologie EMCCD à la porté du plus grand nombre sous la forme de la caméra lucaEM.

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Exposant(s)

60 route de Sartrouville
BP 66
78230 Le Pecq, France
 
Tél : 01 34 80 20 00
Email : micro@zeiss.fr
Site internet : www.zeiss.fr

Société et produits exposés

La société Carl Zeiss MicroImaging GmbH, une entreprise du groupe Carl Zeiss, propose des solutions et des systèmes de microscopie pour la recherche, les laboratoires, les travaux pratiques, l’industrie ainsi que des capteurs spectraux pour le marché analytique. Elle développe, produit et commercialise des instruments, des logiciels et des accessoires qui sont destinés aux systèmes de microscopie. Elle fournit également les procédés qui y sont liés ainsi que les solutions spécifiques pour les techniques d’analyse.

SteREO Discovery.V12
Les nouveaux systèmes optiques modulaires intégrant les SteREO Discovery.V12 élargissent les possibilités d’observation en stéréomicroscopie avec l’obtention d’images au contraste et à la résolution encore améliorés.
La prise en main du SteREO Discovery.V12 est immédiate avec ses interfaces ergonomiques de contrôle sous forme de panneau de commande HIP (Human Interface Panel) et tactile SyCoP (System Control Panel), réunissant toutes les fonctions essentielles pour piloter le stéréomicroscope à votre guise.
Vous activez la mise au point et le zoom, réglez le contraste et l’éclairage, avec en simultané l’affichage de vos paramètres d’observation : le champ objet, le grandissement, la profondeur de champ et la résolution sont alors disponibles en temps réel ! Il permet en effet de mettre au point l’image par paliers maximaux de 350 nm dans une grande plage de mise au point de 340 mm. Les nouveaux systèmes d’éclairage à diodes électroluminescentes (DEL), les dispositifs d’amélioration du contraste en lumière transmise et réfléchie, le tube photographique ergonomique, la protection d’échantillon, la tourelle à 3 objectifs, les gestionnaires de vitesse de focalisation et de luminosité, figurent ainsi parmi les innombrables composants novateurs que Carl Zeiss a spécialement développé pour la stéréomicroscopie appliquée aux sciences des matériaux.

Exposant(s)

27 rue des peupliers
92752 Nanterre, France
 
Tél : 01 41 39 92 10
Email : info-fr@smt.zeiss.com
Site internet : www.smt.zeiss.com/nts

Société et produits exposés

Carl Zeiss SMT est un des 6 départements du groupe Carl Zeiss. A la pointe de la technologie en microscopie par faisceau d'électrons et faisceau d'ions, nous proposons une large gamme de microscopes:

Microscopes Electroniques à Balayage : EVO® , SUPRA® et ULTRA®,
Microscopes Electroniques en Transmission: LIBRA® 120 et LIBRA® 200
Microscopes à Faisceau d'Ions Focalisés CrossBeam® Nvision 40 et Nvision 300

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Exposant(s)

9 rue des Petits-Ruisseaux
BP 61
91371 Verrières-le-Buisson, France
 
Tél : 01 69 53 80 00
Email : t.grenut@elexience.fr
Site internet : www.elexience.fr

Société et produits exposés

Depuis 25 ans, le département Physique d’Elexience commercialise des gammes complètes d’équipements high-tech pour les laboratoires scientifiques et l’industrie du semi-conducteur.

Avec 18 fournisseurs, Elexience propose des produits pour chaque technique :

• Microscopie Electronique à Balayage et à Transmission Hitachi
• Microanalyse X Thermo Fisher Scientific
• Accesoires et préparation pour microscopie électronique Quorum Technologies/Emitech, KE Developments, Kammrath & Weiss, Quantomix, Bal-TEC/RMC, AMT, Ditabis
• Serveurs d’images et d’équipements Quartz PCI
• SIMS Milbrook-Instruments
• Nano-indentation Hysitron

Vente, suivi administratif, service après-vente, applications, démonstrations, formations…Elexience est votre interlocuteur unique.

A l'occasion du colloque SFµ, Elexience introduira de nombreuses nouveautés en microscopie électronqiue et pour la préparation d'échantillons.

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Exposant(s)

Paris Nord II
33 rue des chardonnerets
BP 68039
95971 Roissy CDG cedex, France
 
Tél : 01 48 63 20 00
Email : contact@eloise-sarl.fr
Site internet : www.eloise-sarl.fr

Société et produits exposés

Eloïse commercialise des instruments scientifiques pour le travail et la recherche en microscopie électronique. Nous avons sélectionné pour vous les appareils les plus performants, conçus et réalisés par des leaders mondiaux dans leurs domaines d’application. Notre expérience de 30 ans en microscopie électronique, le sérieux et la compétence de notre service après-vente, sont les vecteurs de notre réputation.

TESCAN, une large gamme de MEB

fondée en 1991, TESCAN propose des microscopes électroniques à balayage de conception moderne et originale, largement diffusés dans de nombreux pays.

EDAX, à la pointe de la microanalyse

Une gamme complète de systèmes de microanalyse EDS, WDS et EBSD. L’intégration de ces techniques en différentes combinaisons ouvre de nouveaux horizons pour l’analyse.

Olympus Soft Imaging Solution, nouvelles caméras, nouveau logiciel

OSIS (ex-SIS) est reconnue comme leader pour les caméras CCD pour les MET, avec une gamme enrichie de nouveaux modèles pilotées par le logiciel iTEM.

NanoMEGAS, méthode de précession pour la diffraction électronique

Interface universelle pour la précession en diffraction électronique. Diffractomètre numérique pour la mesure des intensités des taches de diffraction.

Cressington, évaporateurs et métalliseurs

Une gamme complète de métalliseurs et évaporateurs performants et fiables, une station d’évaporation destinée aux applications haute technologie et à la recherche.

Pelco International

Notre gamme ne serait pas complète sans le catalogue PELCO, qui regroupe l’ensemble des articles dont vous avez besoin pour la préparation, l’observation et le stockage de vos échantillons.

Spicer Consulting

Appareils de mesure des champs magnétiques et des vibrations, équipements pour la compensation des champs magnétiques.

Services Eloïse

Eloïse vous propose tous les services utiles, contrats de maintenance, formation, support, et une offre de MEB et MET d’occasion, révisés et garantis pour débuter ou accroître votre activité.

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Exposant(s)

inscription exposant

Mr Laurent BERAUDIAS
Eloïse

inscription exposant

Mr Pierre DURAND
Eloïse

inscription exposant 280

Mr Bernard JEAN
Gérant - Eloïse
Tél : 01 48 63 20 00 - Mobile : 06 80 47 62 81
email : bjean@eloise-sarl.fr

inscription exposant

Mr Filip LOPOUR
Eloïse

inscription exposant

Mr Stavros NICOLOPOULOS
Eloïse

inscription exposant 279

Mr Guillaume WILLE
Ingénieur application - Eloïse
Tél : 01 48 63 20 00 - Mobile : 06 80 47 62 94
email : gwille@eloise-sarl.fr

Contribution(s) orale(s)

contribution exposant

Titre : TESCAN - Performance in Nanospace
Orateur : Filip Lopour (ELOISE / TESCAN)
Proposé par : Eloïse

1 ZI du Fond de Prés
91460 Marcoussis, France
 
Tél : 01 64 49 71 30
Email : jj.servant@eotech.fr
Site internet : www.eotech.fr

Société et produits exposés

Spécialisée dans la promotion des techniques optiques pour la mesure sans contact, notre entreprise propose des techniques complémentaires pour caractériser les surfaces du nanomètre au mètre :

• Microscopie AFM combinée avec la microscopie interférométrique à décalage de phase et à balayage de frange
• Profilométre optique par capteur point OCT
• Profilomètre optique par projection de franges
• Capteurs 3D par triangulation optique et projection de franges
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Exposant(s)

inscription exposant

Mr Jean-Jacques SERVANT
Directeur Commercial - EOTECH
Mobile : (0)1 64 49 71 30
email : jj.servant@eotech.fr

10 place Charles Béraudier
69428 Lyon cedex 03, France
 
Tél : 01 73 03 65 26
Email : feifrance@fei.com
Site internet : www.fei.com

Société et produits exposés

Semi-conducteurs et supports de stockage de données
Caractérisation, analytique et données de métrologie de qualité supérieure pour un développement plus rapide, de meilleurs rendements et des déviations de procédés moins fréquentes.

Recherche
Série d’outils aux performances les plus poussées de FEI permettant d’imager, caractériser, analyser et manipuler des objets de taille subatomique pour des données d’échantillons quantitatives.

Biologie et sciences de la vie
Les solutions d’imagerie robustes donnent des résultats époustouflants dans les technologies d’imagerie de particules et d’analyse structurale et fonctionnelle.

Industrie
De la préparation d’échantillons à la caractérisation par imagerie et aux expériences dynamiques, les outils FEI permettent aux sociétés de créer des produits plus résistants, plus efficaces et de meilleure qualité.

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Exposant(s)

Contribution(s) orale(s)

Quartier Europe
4 rue Galilée
78285 Guyancourt cedex, France
 
Tél : 01 34 52 10 30
Email : info@fondiselectronic.com
Site internet : www.fondiselectronic.com

Société et produits exposés

Depuis plus de 25 ans, nous apportons au monde scientifique une expertise globale en instrumentation d’analyse et de contrôle. Quel que soit votre besoin, vous choisissez parmi les technologies les plus innovantes : spectrométrie IR ou EOS, fluorescence X, μFluorescence X, GC/MS, Fast GC, diffraction X, microscopies Auger, ESCA, XPS, TOF SIMS et D-SIMS, microscopie AFM, microanalyse EDS ou profilométrie optique. La richesse de notre gamme vous permettra de trouver le matériel adapté à vos applications.
Vous bénéficiez d’un engagement de services unique : conseils et supports clients personnalisés, laboratoire d’applications, études de faisabilité, service technique de pointe et maintenance préventive.

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Exposant(s)

3 bis chemin du Haut Breuil
78113 Grandchamp, France
 
Tél : 01 34 94 44 07
Email : dmonville@gatan.com
Site internet : www.gatan.com

Société et produits exposés

GATAN, leader mondial des accessoires pour Microscopes électroniques, fournit une gamme complète allant depuis la préparation d'échantillons jusqu'à l'analyse en perte d'énergie en passant pas les sytèmes d'acquisition d'images, les porte-objets, les platines de traction, chauffantes, refroidissantes, de transfert, les systèmes de cathodo-luminescence, EBIC,... pour MEB et MET.

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Exposant(s)

16-18 rue du Canal
91165 Longjumeau, France
 
Tél : 01.64.54.13.00
Email : info@jobinyvon.fr
Site internet : www.jobinyvon.com

Société et produits exposés

Fondé il y a près de 190 ans, HORIBA Jobin Yvon est un des principaux fabricants d'instrumentation analytique et de composants de spectroscopie optique.
Membre du groupe HORIBA depuis 1997, nous sommes désormais l'une des plus importantes compagnies d'instrumentation dans le monde, avec un chiffre d'affaires annuel de plus d'un milliard de dollars et un nombre d'employés supérieur à 4400.
HORIBA Jobin Yvon fournit des équipements dans lesquels la spectroscopie optique est le dénominateur commun et compte un très grand nombre d'utilisateurs dans l'industrie et les domaines de la recherche publique et privée.

Analyse microscopique et moléculaire
- Spectroscopie Raman
- Spectrofluorométrie
- Microfluorescence X

Analyse Elementaire
- Fluorescence X
- Spectroscopie ICP – Etincelle – SDL
- Analyseurs élémentaires

Optique
- Réseaux et Spectromètres OEM
- Instrumentation VUV
- Spectroscopie Optique Modulaire

Analyse Granulométrique

Techniques Emergentes
- Caractérisation optique des couches minces
- Sciences criminalistiques

Exposant(s)

Espace Claude Monet
1 allée de Giverny
78290 Croissy sur Seine , France
 
Tél : 01 30 15 37 37
Email : sales@jeol.fr
Site internet : www.jeol.com

Exposant(s)

Contribution(s) orale(s)

86 avenue du 18 Juin 1940
92563 Rueil-Malmaison, France
 
Tél : 06 15 19 65 38
Email : frederic.gilleron@leica-microsystems.com
Site internet : www.leica-microsystems.com/EM_Specimen_Prep

Exposant(s)

Contribution(s) orale(s)

4 allée des Garays
91120 Palaiseau, France
 
Tél : 01 69 19 49 49
Email : soares@lot-oriel.fr
Site internet : www.lot-oriel.fr

Société et produits exposés

LOT-ORIEL est un groupe européen de distribution de matériels optiques et magnétiques destinés essentiellement au monde de la recherche. Fondé il y a plus de trente ans, sa présence dans chaque pays est assurée au travers d’un réseau de filiales disposant de leurs propres ingénieurs et service technique, la maison mère étant basée en allemagne. Si originellement LOT-ORIEL s’est spécialisé en optique et instrumentation optique, de nouveaux domaines d’activité se sont ajouté au cours du temps. Aujourd’hui, LOT-ORIEL est devenu un acteur majeur de l’analyse des surfaces et des couches minces par voie optique et de la caractérisation des matériaux, tant optique, thermique que magnétique.
L’expertise de LOT-ORIEL est aujourd’hui reconnue dans de nombreux domaines, comme l’interférométrie, la profilométrie, l’ellipsométrie spectroscopique, la microscopie à champ proche ou la magnétométrie.

Ligne de produits présentés au colloque:
Microscopes à Forces Atomiques et Microscopie à champ proche (JPK instruments, PNI, Witec)
Systèmes d'imagerie multispectrale de CRI (Nuance, Maestro) et système d'imagerie en lumière polarisée (Aprio).

Exposant(s)

Espace Technologique de Saint-Aubin
91193 Gif sur Yvette
 
Tél : 01 64 86 78 50
Email : info@noesis.fr
Site internet : www.noesis.fr

Société et produits exposés

Depuis plus de 20 ans, Noesis s’appuie sur sa plate forme Visilog pour proposer des solutions de traitement et d’analyse d’images dans de nombreux secteurs d’activités, aussi bien dans le domaine des matériaux que des sciences du vivant.

De nombreux laboratoires d’analyse, de contrôle ou de recherche font appel à ces solutions pour exploiter en routine leurs préparations, en particulier en microscopie électronique ou optique.

Le module Stage permet de piloter les platines motorisées et les principaux microscopes optiques du marché. Il est utilisé pour réaliser de véritables automates de contrôles permettant d’obtenir un grand nombre de mesures tout en déchargeant l’opérateur de manipulations fastidieuses.

Ces systèmes offrent une excellente répétabilité des mesures et peuvent être complétés par un module de contrôle d’accès et d’audit trail très utilisés en particulier dans l’industrie pharmaceutique (CFR 21 part 11).

Parmi de nombreux systèmes développés, on retiendra :

Dans le domaine des matériaux :

Mesure de taille de grains, mesure de la décarburation, mesure de la cotation inclusionnaire, contrôle de pollution sur membranes transparisées ou non, granulométrie d’agglomérats type béton, contrôle de dosimètres, contrôle de tamis

Dans le domaine des sciences du vivant :

Analyse granulométrique de poudre (industrie pharmaceutique), test de l’UDS (toxicologie génétique), test du micro noyau (toxicologie génétique), test des Daphnies (toxicologie environnementale), étude de la division cellulaire (microscopie à fluorescence)

Agence des Ulis
6-8 Rue de la réunion,
ZA Courtabœuf
91540 les Ulis
Tel : 33 (0)1 64 86 78 50

Agence de Crolles
283 rue Louis Néel, 38920 Crolles
Tel : 33 (0)4 76 92 07 95

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Exposant(s)

74 rue d'Arceuil
94533 Rungis, France
 
Tél : 01 45 60 23 30/71/09
Email : microscopie.ofr@olympus.fr
Site internet : www.olympus.fr

Société et produits exposés

Olympus France fait partie des leaders du domaine de l’optique et de l’imagerie numérique. Les produits qui découlent de cette technologie sont variés et Olympus utilise la transversalité de ses savoir-faire pour répondre aux besoins spécifiques d’activités pourtant différentes. Ainsi Olympus France, pour le domaine des sciences des matériaux et de l’Industrie, distribue une gamme complète de microscopes optiques. La particularité des microscopes Olympus est leur modularité qui leur permet de couvrir les besoins des utilisateurs aussi bien dans le domaine de la Recherche que celui de la production ou de contrôle. Olympus a pour objectif de proposer une solution complète à ses clients c’est-à-dire un microscope optique équipé d’un appareil ou d’une caméra numérique avec un logiciel d’analyse et de traitement de l’image. A ceci, la filiale française assure un Service Après Vente unique qui comprend la mise en service, la formation et l’entretien du matériel.

Exposant(s)

Contribution(s) orale(s)

Domaine Technologique de Saclay
Bâtiment Ariane
4 rue René Razel
91892 Saclay
 
Tél : 01 69 85 25 24
Email : analytical-info@oxford-instruments.fr
Site internet : www.oxford-instruments.com

Société et produits exposés

OXFORD INSTRUMENTS fournisseur sur le marché international de matériels d'instrumentation scientifique pour la recherche, le contrôle, l'expertise et les applications industrielles. EDS, EBSD, WDX.
INCAEnergy, systèmes EDX rapides, puissants, intégrés, regroupant toutes les solutions analytiques en nanoanalyses avec une nouvelle génération de détecteurs :

• INCAx-act ADD (Analytical Drift Detector) sans azote liquide,
• INCAPentaFET-x, détecteur de 30mm2 3 fois plus sensible qu'un détecteur de 10mm2 avec les mêmes performances analytiques,
• HKL Premium, système à très haute vitesse d'indexation des clichés EBSD, intégré dans la plateforme INCA (INCASynergy),
• INCAWave, un système WDX performant à haute sensibilité pour les éléments traces avec un logiciel d'intégration EDX/WDX (INCAEnergy+).

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Exposant(s)

Contribution(s) orale(s)

1554 route de la Roquette
06670 Levens, France
 
Tél : 04 97 00 10 00
Email : jft@samx.com
Site internet : www.samx.com

Société et produits exposés

SAMx est une société spécialisée dans le domaine de la Microanalyse. Depuis 17 ans de nombreux produits ont été développés :

• Couches Minces – STRATAGem
• Automatisation de Microsondes – XMAS
• Système EDS incluant l’imagerie spectrale – IDFix
• Logiciel stéréo – 3D_TopX
• Logiciel de Monte Carlo – Hurricane

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Exposant(s)

ZA de Courtaboeuf
17 avenue des Andes
Bâtiment Le Cèdres
91940 Les Ulis, France
 
Tél : 01 64 53 27 00
Email : info@scientec.fr
Site internet : www.scientec.fr

Société et produits exposés

La société ScienTec est à votre disposition sur son stand pour vous présenter ses équipements de mesure de surface :

Département mesure de surface :
Le département Mesure de surface regroupe les microscopies :

• AFM, STM (Agilent Technologies / Molecular Imaging)
• SNOM / RAMAN (Nanonics)
• Microscopie et profilométrie optique : interférométrie, confocal, technologie Sarfus, holographie. (Sensofar, Nanolane, Lyncee Tec)
• Profilométrie mécanique (KLA-Tencor)
• Nano-indentation. (Micro-Materials)

Quatre personnes sont spécialisées dans les problèmes d'application. Ce service application est épaulé par un support technique composé d'ingénieurs et de techniciens supérieurs. Afin de répondre au mieux aux besoins spécifiques des laboratoires, ScienTec dispose d'une équipe R&D qui développe des accessoires ou instruments sur mesure. Des collaborations se mettent ainsi en place pour optimiser vos mesures.

Microscopies champ proche (AFM, STM, SNOM):
Les microscopies à champ proche comptent entre autres les microscopies AFM, STM (Agilent Technologies / Molecular Imaging, Sensofar), et SNOM (Nanonics). Ces microscopes permettent de faire des analyses de l'échelle micrométrique à l'échelle atomique tout en préservant vos échantillons. De très nombreux modes de fonctionnement sont disponibles (magnétique, acoustique, current sensing, modulation de force…) et des analyses sont possibles sur tout type d'échantillon (biologie, polymères, couches minces…) dans différentes conditions comme en environnement contrôlé, en température contrôlée, en milieux liquides…

Profilométrie et microscopie 2D/3D :
Les techniques de profilométrie permettent également d'analyser les topographies de vos échantillons. La technologie Sarfus peut visualiser des objets uniques de dimension inférieure à la limite de diffraction optique. Cette technologie permet également des mesures de hauteur de 1nm à 60nm et de visualiser des évolutions en temps réel. Les microscopies optiques, notamment l’holographie (mesure 3D en dynamique), l'interférométrie et la microscopie confocale, sont adaptées pour les mesures tridimensionnelles non destructives. La profilométrie mécanique fait appel à un palpeur, venant analyser la rugosité et l'ondulation de vos surfaces.

Nano-indentation et magnétométrie :
La nano-indentation et la magnétométrie font aussi partie de nos axes de compétences. La magnétométrie permet de faire apparaître les propriétés magnétiques de vos matériaux, et ceci jusqu'à de très basses températures (de l'ordre de quelques Kelvins).
La nano-indentation permet de déterminer la fatigue, l'élasticité ainsi que les résistances à l'impact, à la rayure ou encore à l'usure. Notre nano-indenteur permet de pratiquer des tests jusqu'à 500°C.)

Exposant(s)

30 avenue Gustave Eiffel
33608 Pessac, France
 
Tél : 05 57 26 08 88
Email : am.puyastier@serma.com
Site internet : www.serma.com

Société et produits exposés

Spécialisée dans l'analyse, le contrôle, l'expertise et le conseil dans les composants, cartes et systèmes électroniques et matériaux, SERMA Technologies accompagne ses clients dans le développement, la fiabilité, la pérennité et la sûreté de fonctionnement de leurs produits.

La société est à votre disposition sur son stand pour vous présenter ses différents types de prestations, et plus particulièrement celles liées à la Microscopie Electronique en Transmission (TEM) :
1/ Préparation de lames minces.
2/ Analyses TEM.

Nos compétences portent aussi bien sur des analyses de structure que de composition chimique effectuées sur des matériaux variés tels que semi-conducteurs (Si, Ge, GaAs...), métaux et alliages, composites à matrice céramique, quartz, poudres, nanofils, etc...

Les moyens de préparations de lames minces proposés sont :
1/le polissage tripode ;
2/ l'amincissement par ions Ar+ (Precision Ion Polishing System - PIPS) ;
3/ l'amincissement par ions Ga+ (Focused Ion Beam - FIB).

Ces méthodes permettent l'obtention de lames localisées pour l'observation TEM en vue de dessus ou de côté.

Les techniques d'analyses TEM proposées sont :
1/ la microscopie conventionnelle ("deux-ondes", "faisceaux faibles") ;
2/ la microscopie électronique en transmission haute résolution (HRTEM) ;
3/ la diffraction électronique ;
4/ la microscopie électronique en transmission à balayage (STEM) ;
5/ la spectroscopie de rayons X en dispersion d'énergie (X-EDS) ;
6/ la spectroscopie & cartographie chimique par pertes d'énergie des électrons (EELS & EFTEM).

Exposant(s)

7 rue des cerisiers - ZI de l'églantier - CE 1546 LISSES
91015 Evry, France
 
Tél : 01 60 86 08 48
Email : infos@synergie4.com
Site internet : www.synergie4.com

Société et produits exposés

L’équipe Synergie4 vous accueillera sur son stand pour vous présenter

- EDS Bruker : Système Quantax avec détecteur Xflash sans azote liquide (disponible en 30mm²)

- EBSD HKL Technology : Channel 5

- Logiciel Xfilm d’analyse de couches minces

- FISCHIONE Instruments : préparation d’échantillons en microscopie électronique en transmission

- SKYSCAN : microtomographie

- DENTON : dépôt sous vide pour la préparation des échantillons en microscopie électronique

Exposant(s)

Thermo Electron SAS
16 avenue du Québec
SILIC 765
91963 Courtaboeuf cedex, France
 
Tél : 01 60 92 48 00
Email : analyze.fr@thermofisher.com
Site internet : www.thermo.fr

Société et produits exposés

Thermo Fisher Scientific est le leader mondial au service de la science. Nous proposons un grand choix d'instruments analytiques, matériels, consommables et fournitures de laboratoire, ainsi que des technologies révolutionnaires utilisées dans de nombreux domaines : la spectrométrie de masse, l'analyse élémentaire, la spectrométrie moléculaire, la préparation des échantillons, l'informatique, la culture cellulaire, la chimie fine, l'analyse d'interférence ARN, les tests d'immunodiagnostics, ainsi que le contrôle de la qualité de l'eau, de l'air et le contrôle des procédés. Avec un CA Annuel de 9 milliards de dollars, nous proposons nos services à plus de 350 000 clients issus d'horizons divers : sociétés pharmaceutiques et de biotechnologie, hopitaux et laboratoires de diagnostic clinique, universités, organismes de recherche et agences gouvernementales et nous intervenons également dans le cadre du contrôle des processus gouvernementaux et industriels.

La gamme Microanalyse X (EDX, WDX,EBSD) pour la microscopie électronique est représentée en France par la société ELEXIENCE, présente également sur ce colloque

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Exposant(s)

Z.I. de la Gaudrée
11 rue Marie Poussepin
BP 60043
91412 Dourdan cedex, France
 
Tél : 01 64 59 35 20
Email : sales@veeco.fr
Site internet : www.veeco-europe.com

Société et produits exposés

Veeco Instruments est le fabricant mondial le plus avancé d’équipements de procédés de gravure et de dépôt de précision, et d’outils de métrologie tels que la microscopie à force atomique, l’interférométrie optique et la profilométrie mécanique, conçus aussi bien pour l’industrie que pour la recherche.

Veeco sert les principaux fabricants de dispositifs pour le stockage de masse, l’opto-télécommunication et les semi-conducteurs ainsi que de nombreux industriels et chercheurs.

Les objectifs de Veeco se résument en trois points : 1.Rester performant dans le domaine de la haute technologie, 2.Développer toutes ses lignes de produits, 3.Introduire continuellement des produits nouveaux. De plus amples informations sont disponibles sur notre site internet http://www.veeco-europe.com

Exposant(s)