ScienTec

ZA de Courtaboeuf
17 avenue des Andes
Bâtiment Le Cèdres
91940 Les Ulis, France
 
Tél : 01 64 53 27 00
Email : info@scientec.fr
Site internet : www.scientec.fr

Société et produits exposés

La société ScienTec est à votre disposition sur son stand pour vous présenter ses équipements de mesure de surface :

Département mesure de surface :
Le département Mesure de surface regroupe les microscopies :

• AFM, STM (Agilent Technologies / Molecular Imaging)
• SNOM / RAMAN (Nanonics)
• Microscopie et profilométrie optique : interférométrie, confocal, technologie Sarfus, holographie. (Sensofar, Nanolane, Lyncee Tec)
• Profilométrie mécanique (KLA-Tencor)
• Nano-indentation. (Micro-Materials)

Quatre personnes sont spécialisées dans les problèmes d'application. Ce service application est épaulé par un support technique composé d'ingénieurs et de techniciens supérieurs. Afin de répondre au mieux aux besoins spécifiques des laboratoires, ScienTec dispose d'une équipe R&D qui développe des accessoires ou instruments sur mesure. Des collaborations se mettent ainsi en place pour optimiser vos mesures.

Microscopies champ proche (AFM, STM, SNOM):
Les microscopies à champ proche comptent entre autres les microscopies AFM, STM (Agilent Technologies / Molecular Imaging, Sensofar), et SNOM (Nanonics). Ces microscopes permettent de faire des analyses de l'échelle micrométrique à l'échelle atomique tout en préservant vos échantillons. De très nombreux modes de fonctionnement sont disponibles (magnétique, acoustique, current sensing, modulation de force…) et des analyses sont possibles sur tout type d'échantillon (biologie, polymères, couches minces…) dans différentes conditions comme en environnement contrôlé, en température contrôlée, en milieux liquides…

Profilométrie et microscopie 2D/3D :
Les techniques de profilométrie permettent également d'analyser les topographies de vos échantillons. La technologie Sarfus peut visualiser des objets uniques de dimension inférieure à la limite de diffraction optique. Cette technologie permet également des mesures de hauteur de 1nm à 60nm et de visualiser des évolutions en temps réel. Les microscopies optiques, notamment l’holographie (mesure 3D en dynamique), l'interférométrie et la microscopie confocale, sont adaptées pour les mesures tridimensionnelles non destructives. La profilométrie mécanique fait appel à un palpeur, venant analyser la rugosité et l'ondulation de vos surfaces.

Nano-indentation et magnétométrie :
La nano-indentation et la magnétométrie font aussi partie de nos axes de compétences. La magnétométrie permet de faire apparaître les propriétés magnétiques de vos matériaux, et ceci jusqu'à de très basses températures (de l'ordre de quelques Kelvins).
La nano-indentation permet de déterminer la fatigue, l'élasticité ainsi que les résistances à l'impact, à la rayure ou encore à l'usure. Notre nano-indenteur permet de pratiquer des tests jusqu'à 500°C.)

Exposant(s)