Programme Scientifique

Organisation

Le programme du colloque SFµ 2007 comprend :
  • six ateliers de formation et de perfectionnement organisés du lundi 4 juin au mardi 5 juin à midi. Prévus sur deux ou trois demi-journées pour de petits groupes de dix à vingt personnes (selon les cas), ils comprendront des enseignements théoriques et des travaux pratiques réalisés sur les instruments du pôle grenoblois.
  • le colloque proprement dit, organisé du mardi 5 juin au vendredi 8 juin. Il regroupera des exposés oraux et des présentations par posters rassemblés en une vingtaine de symposiums. Pendant la durée du colloque, une exposition de matériel permettra également aux constructeurs de présenter leurs dernières nouveautés.
  • deux soirées sont prévues en accompagnement du colloque : un apéritif avec une visite du Musée de Grenoble le mercredi 6 juin, et un banquet le jeudi 7 juin.

Programme du colloque

Mardi 5 juin
12.30-14.00 Accueil et installation des posters
14.00-16.00 Cérémonie d'ouverture du colloque SFµ 2007
Conférences plénières
Jany Thibault-Pénisson (Marseille) - La microscopie électronique en transmission : de l’observation à la mesure
Christoph Cremer (Heidelberg) - Nouveaux développements en microscopie photonique
16-00-17.15 Pause café et session posters
17.15-18.00 Conférences plénières (suite)
Jean Susini (Grenoble) - Etat de l’art et actualité en microscopie X
18.00-20.00 Inauguration de l'exposition : remise des prix Favard et apéritif
Mercredi 6 juin
08.30-10.30 Symposium commun
Nouveaux développements techniques
10.30-11.00 Pause café, session posters et exposition
11.00-12.45 Symposium Physique / Matériaux
Microscopie quantitative
Symposium GN-MEBA
Nouveaux développements techniques
Symposium Bio / Matière molle
Développements techniques en microscopie photonique
12.45-13.30 Déjeuner
13.30-14.30 Contributions des exposants
"Au café de l'expo - I (physique)"
Contributions des exposants
"Au café de l'expo - I (biologie)"
14.30-16.30 Symposium commun Physique / Matériaux / GN-MEBA
Mesures des textures, déformations et contraintes - I
Symposium Bio / Matière molle
Les virus : structures et mécanismes d'infection
16.30-17.00 Pause café, session posters et exposition
17.00-18.30 Symposium Physique / Matériaux
Matériaux pour les transports et l'énergie
Symposium GN-MEBA
Mesures des textures, déformations et contraintes
Symposium Bio / Matière molle
Microscopie et rayonnement synchrotron
18.30-19.00  
19.30 Réception au Musée de Grenoble
Jeudi 7 juin
08.30-10.30 Symposium commun
Imagerie 3D et reconstruction
10.30-11.00 Pause café, session posters et exposition
11.00-12.45 Symposium Physique / Matériaux
Nano-objects
Symposium GN-MEBA
Imagerie 3D et reconstruction
Symposium Bio / Matière molle
Approche 3D en imagerie moléculaire et cellulaire
12.45-13.30 Déjeuner
13.30-14.30 Contributions des exposants
"Au café de l'expo - II"
14.30-16.00 Assemblée générale
de la SFµ
Symposium GN-MEBA
Imagerie 3D et reconstruction
Assemblée générale
de la SFµ
16.00-16.30 Pause café, session posters et exposition
16.30-18.30 Symposium Physique / Matériaux
Mesures des textures, déformations et contraintes - II
Symposium Bio / Matière molle
Approche 3D en imagerie tissulaire et intra-vitale
20.00 Banquet
Vendredi 8 juin
8.30-10.30 Symposium Physique / Matériaux
Matériaux fontionnels I - Dispositifs électronique, optiques, mécaniques
Symposium Bio / Matière molle
Nano particules et coloïdes organiques ou hybrides
10.30-11.00 Pause café  et session posters
11.00-12.45 Symposium Physique / Matériaux
Matériaux fontionnels II - Dispositifs magnétiques et thermoélectriques
Symposium Bio / Matière molle
Autoassemblage, auto-organisation, cristaux liquides
Fin du colloque

Programme des symposiums (orateurs et posters)

Conférences plénières
Mardi 5 juin - 14.00-18.00

Animateurs : Marie Cheynet (LTPCM, Grenoble), Philippe-André Buffat (EPFL, Lausanne)

Conférenciers invités :

  • 14:30-15:15 - Jany Thibault-Pénisson (TECSEN, Marseille)
    La microscopie électronique en transmission : de l’observation à la mesure
  • 15:15-16:00 - Christoph Cremer (Kirchhoff Institute for Physics, Heidelberg)
    Nouveaux développements en microscopie photonique
  • 17:15-18:00 - Jean Susini (ESRF, Grenoble)
    Etat de l’art et actualité en microscopie X

Nouveaux développements techniques
Symposium commun - Mercredi 6 juin - 8.30-10.30

Animateurs : Jean-Luc Rouvière (DRFMC, CEA Grenoble), Michel Robert-Nicoud (IAB, Université de Grenoble)

Descriptif

Conférenciers invités :
  • 8:30-9:00 - Angus Kirkland (Université d'Oxford)
    Aberration corrected electron microscopy - Prospects and applications
  • 9:00-9:30 - Hervé Rigneault (Institut Fresnel, Marseille)
    Microscopie Raman stimulée CARS : développements récents et applications
  • 9:30-9:50 - Olivier Renault (LETI, CEA Grenoble)
    Spectro-microscopie de photoélectrons XPEEM pour l'imagerie chimique des surfaces : principes et premières applications
  • 9:50-10:10 - Agnès Bogner (MATEIS, INSA de Lyon)
    Le wet-STEM, imagerie en transmission dans un ESEM
  • 10:10-10:30 - Bernard Deconihout (GPM, Université de Rouen)
    Imagerie 3D à l'échelle atomique par sonde atomique tomographique assistée par impulsions lasers femtoseconde

Microscopie quantitative : imagerie, diffraction et spectroscopie
Symposium Physique / Matériaux - Mercredi 6 juin - 11.00-12.45

Animateurs : Thierry Epicier (GEMPPM, INSA de Lyon), Jany Thibault-Pénisson (TECSEN, Marseille)

Descriptif

Conférenciers :
  • 11:00-11:30 - invité - Robert F. Klie (Brookhaven National Laboratory, Chicago, Illinois)
    Atomic-scale studies of complex oxide interfaces using aberration-corrected Z-contrast imaging and EELS
  • 11:30-11:45 - Florian Hüe (CEMES, Toulouse)
    Etude par microscopie électronique en transmission à correcteur d’aberrations des systèmes Si1-xGex/Si dédiés à la microélectronique
  • 11:45-12:05 - invité - Holger Klein (Laboratoire de cristallographie, Grenoble)
    Cristallographie électronique sur un échantillon "réel" : la structure de Mn2O3 résolue par diffraction électronique en précession
  • 12:05-12:20 - Damien Alloyeau (LEM, Onera Chatillon)
    Phénomènes ordre–désordre dans les nanoparticules de CoPt - Etudes quantitatives par microscopie électronique
  • 12:20-12:50 - invité - Christian Colliex (LPS, Orsay)
    EELS spectroscopy in a TEM : new possibilities, new measurements, new applications

Posters

  • P4-1 - Cyril Ailliot (LETI, CEA Grenoble)
    Holographie electronique off-axis : applications, limites, et perspectives
  • P4-2 - Gérard Balossier (LMEA, INSERM Reims)
    TF_Quantif : un algorithme de quantification des films minces sur substrats hétérogènes en microanalyse X
  • P4-3 - Marie Cheynet (SIMAP, Saint Martin d'Hères)
    Investigation de films minces d'HfO2 par HRTEM et spectroscopie de pertes d'énergie des électrons (EELS)
  • P4-4 - David Cooper (LETI, CEA Grenoble)
    Improvement of off-axis electron holography on semiconductor device specimens using the FEI Titan transmission electron microscope
  • P4-5 - Mohamed Yacine Debili (Université d'Annaba)
    TEM study of the decomposition of some rf-sputtered Aluminium-Iron thin films
  • P4-6 - Florent Houdellier (CEMES, Toulouse)
    Dichroïsme circulaire magnétique EMCD (Electron Energy Loss Magnetic Chiral Dichroïsm) dans un microscope électronique en transmission équipé d’un correcteur d’aberration sphérique
  • P4-7 - Damien Jacob (LSPES, Villeneuve d'Ascq)
    Apport de la diffraction électronique en précession pour la caractérisation microstructurale des défauts : cas du maclage dans la coesite
  • P4-8 - Vincent Mauchamp (MATEIS, INSA de Lyon)
    Effets d'anisotropie sur les structures ELNES en spectroscopie de perte d'énergie des électrons : cas du trichroïsme
  • P4-9 - Jean-Paul Morniroli (USTL, ENSCL, CNRS, Villeneuve d'Ascq)
    Comment interpréter les clichés de précession électronique à l'aide de la diffraction en faisceau convergent à grand angle (LACBED)
  • P4-10 - Jean-Paul Morniroli (USTL, ENSCL, CNRS, Villeneuve d'Ascq)
    Etude par précession électronique des abaissements de symétrie dans les perovskites LaGaO3 et LSGM
  • P4-11 - Jean-Paul Morniroli (USTL, ENSCL, CNRS, Villeneuve d'Ascq)
    Apport de la précession électronique à l'identification d'un nouvel hydrure de zirconium
  • P4-12 - Guillaume Radtke (Université Paul Cézanne, Marseille)
    La structure électronique du SrCu2(BO3)2 en EELS : anisotropie et corrélations électroniques
  • P4-13 - Virginie Serin (CEMES, Toulouse)
    New Fullerene like materials: TEM and EELS study of the formation of curved MoS2 fringes

Nouveaux développements techniques
Symposium GN-MEBA - Mercredi 6 juin - 11.00-12.45

Conférenciers invités :

  • 11:00-11:25 - Jacky Larnould (Jeol Europe)
    JSM 7700F, le premier ACSEM commercial (aberration corrected SEM)
  • 11:25-11:50 - Rabah Benbalagh (Cameca)
    La technique LEXES appliqué aux semi-conducteurs
  • 11:50-12:15 - David Balloy (Ecole Centrale de Lille)
    Analyses combinées WDS/EDS au MEB
  • 12:15-12:40 - Aurélie Wauthier (LPMTM, CNRS Villetaneuse - Arcelor)
    EBSD à haute température, recristallisation d'un acier IF dans un MEB à colonne inclinée

Résumés du symposium :
 

Développements techniques en microscopie photonique
Symposium Biologie / Matière molle - Mercredi 6 juin - 11.00-12.45

Animateurs : Alexeï Grichine (IAB, Université de Grenoble), Hervé Rigneault (Institut Fresnel, Marseille)

Descriptif

Conférenciers :
  • 11:00-11:25 - invité - Emmanuel Beaurepaire (Ecole Polytechnique, Palaiseau)
    Microscopie non linéaire multimodale (2PEF, SHG, THG) pour l’imagerie de tissus intacts
  • 11:25-11:50 - invité - Serge Monneret (Institut Fresnel, Marseille)
    Microscopie de fluorescence de membranes de cellules biologiques individuelles stimulées par pinces optiques holographiques
  • 11:50-12:15 - invité - Olivier Haeberlé (IUT, Mulhouse)
    Du microscope au nanoscope ? Développements récents en microscopie optique 3D
  • 12:15-12:40 - Antoine Delon (Laboratoire de Spectrométrie Physique, Saint Martin d'Hères)
    Spectroscopie à corrélation spatiale de fluorescence : mesures locales du transport moléculaire

Contributions des exposants - "Au café de l'expo" - I (physique)
Mercredi 6 juin 13.30-14.30

Animateur : Eric Gautier (SPINTEC, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 13:30-13:50 - Keith Dicks (Oxford Instrument)
    Advances in High-Speed EBSD orientation mapping
  • 13:50-14:10 - Eric Pasquier (Oxford Instrument)
    Détecteurs analytiques ADD sans azote liquide - Plateforme INCA en nanoanalyses
  • 14:15-14:30 - Philippe Lasson (Synergie4)
    Cartographies quantitatives et imagerie élémentaire rapide par sonde à sélection d'énergie (EDS) silicon drift droplet (SDD) en microscopie électronique

Contributions des exposants - "Au café de l'expo"- I (biologie)
Mercredi 6 juin 13.30-14.30

Animateur : Eric Gautier (SPINTEC, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 13:30-14:00 - Christian Feuillet (Olympus)
    FV1000, au-delà de la microscopie confocale
  • 14:00-14:30 - Daniel Studer (Université de Bern, Suisse) (Proposé par Leica Microsystems)
    La congélation rapide haute pression et ses extensions

Mesures de textures, déformations et contraintes - I
Diffraction STEM, EBSD, Kossel
Symposium commun Physique / Matériaux / GN-MEBA - Mercredi 6 juin - 14.30-16.30

Animateurs : Muriel Véron (LTPCM, INPG Grenoble), François Grillon (ENSMP, Paris)

Descriptif

Conférenciers invités :

  • 14:30-15:00 - David Dingley (TSL, Utah USA and Bristol University)
    Elastic strain measurement from analysis of EBSD patterns
  • 15:00-15:30 - Edgard Rauch (GPM2, INP-Grenoble)
    ACOM/TEM - Automated Crystal Orientation Mapping with a TEM
  • 15:30-15:50 - Roland Fortunier (Ecole des Mines de Saint-Etienne)
    Determination of local elastic strain by using the EBSD technique
  • 15:50-16:10 - Adam Morawiec (Institute of Metallurgy and Materials Science, Cracovie, Pologne)
    TEMStrain - a software package for elastic strain determination from CBED patterns
  • 16:10-16:30 - Patrice Gergaud (LETI, CEA Grenoble)
    Détermination des contraintes par diffraction de Kossel

Posters

  • P7-1 - Aicha Serier (Université M'hamed Bougara, Boumerdes)
    Degradation induced by recycling process of polypropylene

Les virus : structure et mécanismes d'infection
Symposium Biologie / Matière molle - Mercredi 6 juin - 14.30-16.30

Animateurs : Guy Schoehn (EMBL, Grenoble), Jorge Navaza (IBS, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 14:30-14:55 - invité - Jean Lepault (CNRS / VMS, Gif-sur-Yvette)
    Dissection des fonctions d'une protéine virale : une étude par cryo-microscopie électronique corrélée à la radiocristallographie et la RMN
  • 14:55-15:20 - invité - Amélie Leforestier (LPS, Orsay)
    DNA ejection from bacteriophage T5 analysed by cryo-electron microscopy
  • 15:20-15:40 - invité - Ricardo Aramayo (IMPMC, Jussieu)
    Etude structurale de l'auto-assemblage des protéines de capsides virales par microscopie électronique
  • 15:40-16:00 - invité - Guy Schoehn (EMBL, Grenoble)
    Analyse structurale de l'adenovirus par cryo microscopie electronique et analyse d'images
  • 16:00-16:15 - Romuald Patient (Faculté de Médecine, Tours)
    Morphogenèse et trafic intracellulaire des particules sous-virales d’enveloppe du virus de l’hépatite B
  • 16:15-16:30 - Christophe Hourioux (Faculté de Médecine, Tours)
    Mécanismes d’assemblage de la protéine de capside du virus de l’hépatite C (VHC) et importance de sa variabilité dans un modèle de stéatose viro-induite in vitro

Posters

  • P13-1 - Ahlem Ayadi (Faculté de Médecine de Tunis)
    Intracellular behaviour of the lactating mammary gland cells after aluminium injection. An ultrastructural study
  • P13-2 - Elizabeth Hewat (Institut de Biologie Structurale, Grenoble)
    Non-neutralizing HRV2-specific monoclonal antibody 2G2 attaches to a region that undergoes most dramatic changes upon release of the viral RNA

Matériaux pour les transports et l'énergie
Matériaux de structures, matériaux pour les piles, les batteries et le photovoltaïque
Symposium Physique / Matériaux - Mercredi 6 juin - 17.00-19.00

Animateurs : Abdelkrim Redjaimia (INPL, Nancy), Cyril Cayron (LITEN, CEA Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 17:00-17:30 - invité - Richard Portier (ENCP, Paris)
    Les alliages à mémoire de forme : des matériaux aux propriétés mécaniques singulières
  • 17:30-17:45 - Florence Pettinary-Sturmel (CEMES, Toulouse)
    Apport de la microscopie in-situ à l'étude quantitative locale de la déformation du Ti-6Al-4V
  • 17:45-18:00 - Robin Schaeublin (EPFL-CRPP, Villigen, Suisse)
    Caractérisation par MET de défauts cristallins nanométriques dans les aciers: qu’en disent les simulations d’image ?
  • 18:00-18:15 - Cécile Garcia (LCTS, Pessac)
    Etude par MEB et MET de carbone pyrolytique pour combustible nucléaire
  • 18:15-18:30 - Aïcha Hessler-Wyser (EPFL-CIME, Lausanne)
    Caractérisation d'hétérojonctions a-Si:H/c-Si pour cellules photovoltaiques
  • 18:30-18:45 - Lucile Joly-Pottuz (MATEIS, INSA de Lyon)
    Le FIB/EFTEM : un outil original pour la compréhension des modifications structurales par frottement de couches carbonées
  • 18:45-19:00 - Bertrand Van de Moortèle (ENS Lyon)
    Observation par Microscopie Electronique des effets de chocs dans trois météorites martiennes

Posters

  • P9-1 - Loic Boulanger (SRMP, CEA Saclay)
    Boucles de dislocation dans des alliages ferritiques et martensitiques irradiés par des ions krypton à 500 et 550°C
  • P9-2 - Cyril Cayron (LITEN, CEA Grenoble)
    Grain Boundary Engineering and Sigma3n Multiple Twinning
  • P9-3 - Cyril Cayron (LITEN, CEA Grenoble)
    Crystallographic considerations on phase transition materials and their applications to the reconstruction of parent grains from EBSD data
  • P9-4 - Antonin Faes (EPFL-CIME, Lausanne)
    Étude de réduction et d’oxydation de l’anode d’une pile à combustible à oxyde solide à support anode (SOFC)
  • P9-5 - Laure Guetaz (LITEN, CEA Grenoble)
    Etude des différents composants d’électrodes de piles à combustible PEMFC
  • P9-6 - Vanessa Vidal (CEMES, Toulouse)
    Apport et complémentarité de différentes techniques de microscopie électronique pour la caractérisation de nano-précipités dans un acier martensitique
  • P9-7 - Xiao-Chuan Xiong (Ecole des Mines, Nancy)
    Orientation relationships between ferrite and Fe4N nitride in hypoeutectoid iron-nitrogen binary alloy
  • P9-8 - Oussama Yousfi (SIMAP, Grenoble)
    Caractérisation structurale multi-échelle par microscopies de la transformation allotropique α→β-NiS

Mesures des textures, déformations et contraintes
Symposium GN-MEBA - Mercredi 6 juin - 17.00-18.30

Conférenciers invités :

  • 17:00-17:30 - David Dingley (TSL, Utah USA and Bristol University)
    Techniques in phase identification and determination using EBSD.
    Progress in the determination of orientation maps and phase determination using the dark field conical scan technique in the transmission electron microscope.
  • 17:30-17:50 - Anne-Laure Etter (LPCES, CNRS Orsay)
    Etude de l’évolution des textures de déformation lors de la recristallisation en fonction de l’énergie stockée, force motrice en recristallisation. Application au fer et au cuivre.
  • 17:50-18:10 - Frank Esposito (Alcan, Centre de Recherches de Voreppe)
    Sur la reconstruction des cartes EBSD dans les microstructures restaurées
  • 18:10-18:30 - Kangying Zhu (LPMTM, CNRS Villetaneuse)
    Etude de la recristallisation dans un alliage de zirconium par la technique EBSD

Résumés du symposium :
 

Microscopie et rayonnement synchrotron
Symposium Biologie / Matière molle - Mercredi 6 juin - 17.00-19.00

Animateurs : Jose Baruchel (ESRF, Grenoble), Jean Susini (ESRF, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers invités :
  • 17:00-17:30 - Christian Riekel (ESRF, Grenoble)
    Applications of micro-diffraction to the study of fibres
  • 17:30-18:00 - Eva Pereiro (Synchrotron ALBA, Barcelone)
    X-ray microscopy and biological applications
  • 18:00-18:30 - Marine Cotte (C2RMF, Le Louvre, Paris)
    Les nouveaux développements en micro-spectroscopie infrarouge utilisant le rayonnement synchrotron
  • 18:30-19:00 - Wolfgang Ludwig (CNRS, Lyon)
    Caractérisation 3D de la microstructure d'absorption et cristalline dans les matériaux polycristallins par tomographie en contraste de diffraction

Posters

  • P6-1 - Danielle Dupeyre (CERMAV, Grenoble)
    Les grains d'amidons géants de l'orchidée Phajus grandifolius

Imagerie 3D et reconstruction
Symposium commun - Jeudi 7 juin - 8.30-10.30

Animateurs : Patricia Donnadieu (LTPCM, Grenoble), Dominique Ploton (Université de Reims)

Descriptif

Conférenciers invités :
  • 8:30-9:10 - Wolfgang Baumeister (Max Planck Institute of Biochemistry, Martinsried)
    Mapping molecular landscapes inside cells by cryoelectron tomography
  • 9:10-9:35 - Yves Usson (IN3S, Grenoble)
    Approches de microscopie photonique 3D : sectionnement optique et tomographie
  • 9:35-10:10 - Stefan Zaefferer (Max Planck Institute for Iron Research, Duesseldorf)
    3D-orientation microscopy in a FIB-SEM : a new dimension of microstructure characterisation
  • 10:10-10:30 - Lydia Laffont (Université d’Amiens)
    Tomographie en contraste STEM-HAADF: applications aux nanomatériaux

Posters

  • P3-1 - Samir Benlekbir (MATEIS, INSA de Lyon)
    Solutions non-commerciales pour tomographie de nano-matériaux en microscopie électronique par transmission en mode "STEM"
  • P3-2 - Samir Benlekbir (MATEIS, INSA de Lyon)
    Stéréoscopie en microscopie électronique en transmission : application aux nano-composites Or/Silice
  • P3-3 - Samir Benlekbir (MATEIS, INSA de Lyon)
    Tomographie en microscopie électronique en transmission : formes complexes de nanoparticules Pd
  • P3-4 - Nicolas Boisset (IMPMC, Université Pierre et Marie Curie, Paris)
    Etude structurale de la Glutamate Synthase bactérienne par cryomicroscopie électronique et modélisation moléculaire
  • P3-5 - Ovidiu Ersen (IPCMS - GSI, Strasbourg)
    Application de la microscopie électronique 3D à l’étude des matériaux pour la catalyse hétérogène
  • P3-6 - Pijarn Jornsanoh (MATEIS, INSA de Lyon)
    Imagerie tridimensionnelle en microscopie électronique à balayage à pression contrôlée
  • P3-7 - Wolfgang Ludwig (MATEIS, INSA de Lyon)
    Simultaneous characterization of 3D absorption and grain microstructure in undeformed materials by diffraction contrast tomography
  • P3-8 - Cédric Messaoudi (Institut Curie, Orsay)
    Aberrant pixel removal tool for electron microscopy images

Nano-objets
Nanoparticules, colloïdes, nanotubes, nanofils, auto-organisation
Symposium Physique / Matériaux - Jeudi 7 juin - 11.00-12.45

Animateurs : Christian Ricolleau (Université Paris VII), Suzanne Giorgio (CRMC2, Marseille)

Descriptif

Conférenciers :
  • 11:00-11:30 - invité - Francisco Cadete Santos Aires (IRC, Lyon)
    Apport de la microscopie électronique en transmission à l'étude de catalyseurs
  • 11:30-11:45 - David Babonneau (SP2MI, Université de Poitiers)
    Analyse quantitative par HAADF-STEM de la morphologie de nanoparticules d’or et d’argent encapsulées dans des matrices diélectriques
  • 11:45-12:00 - Martien den Hertog (LEMMA, CEA Grenoble)
    Structural properties of gold catalyzed silicon nanowires: defects in the wires and gold on the wires
  • 12:00-12:15 - Jaysen Nelayah (LPS, Orsay)
    Cartographie des modes plasmons de surface, à l’échelle nanométrique, sur des particules isolées par spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons résolue spatialement
  • 12:15-12:30 - Craig Johnson (CEMES, Toulouse)
    Disclinations in decahedral gold nanoparticles: strain distributions by aberration-corrected HREM
  • 12:30-12:45 - Florent Tournus (LPMCN, Villeurbanne)
    Observation de l’ordre chimique dans des nanoparticules de CoPt par microscopie électronique en transmission à haute résolution

Posters

  • P12-1 - France Beauchesne Simonet (IRCELYON, Villeurbanne)
    Comparaison et optimisation de techniques d'observations microstructurales à l'aide d'échantillons tests non conducteurs
  • P12-2 - Catherine Bougerol (Equipe NPSC, Grenoble)
    Etude par microscopie électronique en transmission de nano-fils de semiconducteurs II-VI obtenus par épitaxie par jets moléculaires
  • P12-3 - Martiane Cabié (CRMCN, Marseille)
    Suivi en conditions réactionnelles des propriétés d'agrégats d'or par microscopie électronique environnementale à haute résolution (E-HRTEM)
  • P12-4 - Thierry Epicier (MATEIS, INSA de Lyon)
    Chimie de nano-particules en STEM-HAADF
  • P12-5 - Mathias Kobylko (LPS, Orsay)
    Electrical transport and optical properties of carbon nanotubes probed by in situ and cross-correlated experiments
  • P12-6 - Mélanie Lamirand (ICMCB , Pessac)
    Les apports de la MET aux techniques d'analyses plus globales - Application à des matériaux nanostructurés à base de terres rares
  • P12-7 - Cyril Langlois (Université Paris 7)
    Synthèse de nanoparticules cœur-coquilles, étude par HRTEM et EFTEM
  • P12-8 - Stefano Mazzucco (LPS, Orsay)
    Développement d'un système pour la détection ou l'injection de lumière dans un microscope électronique à balayage en transmission (STEM)
  • P12-9 - Nicolas Menguy (IMPMC, Paris)
    Croissance de nano-magnétites intracellulaires
  • P12-10 - Valérie Potin (Institut Carnot de Bourgogne, Dijon)
    Etude de la croissance de nanobatonnets de WO3 sur mica
  • P12-11 - Béatrice Vacher (LTDS, Ecole Centrale de Lyon )
    Caractérisation de nano-oignons de carbone: corrélation entre leurs propriétés physiques et leurs propriétés tribologiques
  • P12-12 - Alberto Zobelli (LPS, Orsay)
    Irradiation de systèmes nanotubulaires
  • P12-13 - Carine Zoller (LSPES, Villeneuve d'Ascq)
    Caractérisation de nanoparticules de silicium dans une matrice de silice par EFTEM

Imagerie 3D et reconstruction
Symposium GN-MEBA - Jeudi 7 juin - 11.00-12.45 et 14.30-16.00

Conférenciers invités :

  • 11:00-11:40 - Denis Boivin (ONERA, Châtillon)
    Reconstruction 3D de surface à partir d'images de microscopie électronique à balayage et de microscopie optique sériée
  • 11:40-12:10 - Elisabeth Bouchaud (CEA Saclay)
    Traitement multi-échelle des surfaces
  • 12:15-12:40 - Anne Colonna (L'Oréal Recherche)
    La microscopie confocale : un moyen d’investigation volumique et temporel d’échantillons biologiques
  •  
  • 14:30-14:50 - Marie-Anne Prévost (ONERA, Châtillon)
    Suivi de joints de grains par AFM
  • 14:50-15:10 - Catherine Sant (LMN, Université d’Evry)
    Caractérisation de dépôts nanométriques par réflectivité des rayons X
  • 15:10-15:35 - Serge Carras (Altimet)
    Le chromatisme axial en lumière blanche, une métrologie optique des surfaces à caractère normatif
  • 15:35-16:05 - Brigitte Gaillard-Martinie (INRA, Clermont-Ferrand)
    L’organisation d’un centre commun de Microscopie. Mise en place de la démarche qualité.

Résumés du symposium :
 

Approches 3D en imagerie moléculaire et cellulaire
Symposium Biologie / Matière molle - Jeudi 7 juin 11.00-12.45

Animateurs : Danièle Hernandez-Verdun (IJM, Paris), Yves Usson (IN3S-Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 11:00-11:30 - invité - Jean-baptiste Sibarita (Institut Curie, Paris)
    Analyse de la dynamique par imagerie de FRAP-4D, ou 4D-FRAP imaging
  • 11:30-12:00 - invité - Marc Tramier (Institut Jacques Monod, Paris)
    FLIM par imagerie multifocale
  • 12:00-12:30 - invité - Dominique Ploton (MéDIAN, Reims)
    Microscopie corrélative
  • 12:00-12:45 - Rana Ibrahim (Institut Curie, Paris)
    Etude tomographique des centrioles isolés: structure interne centriolaire et appendices subdistaux

Posters

  • P14-1 - Jéril Degrouard (Développement et Evolution, Orsay)
    Les cellules dendritiques libèrent du glutamate pour communiquer à la synapse immunologique
  • P14-2 - Christopher Parmenter (University of Warwick, Coventry)
    Cryo-electron microscopy of FVIII bound to phospholipid vesicles

Contributions des exposants - "Au café de l'expo"- II
Symposium commun - Jeudi 7 juin 13.30-14.30

Animateur : Eric Gautier (SPINTEC, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 13:30-13:45 - William Signac (Olympus)
    Donner à la métrologie une nouvelle dimension: le nouveau microscope confocal LEXT
  • 13:45-14:00 - Nicolas Medard (Selco-Nanolane, proposé par Scientec)
    SARFUS : une nouvelle solution optique pour l’imagerie d’objets nanométriques
  • 14:00-14:15 - Régis Ravelle-Chapuis (Jeol Europe SAS)
    Breakthrough by Cs-corrected TEM in Atomic Resolution and Analytical Electron Microscopy
  • 14:15-14:30 - Laurent Roussel (FEI Company)
    Very low damage thin sample preparation for HRTEM - the usecase of the LaB6 emitter failure analysis

Mesures de textures, déformations et contraintes - II
CBED, HRTEM
Symposium Physique / Matériaux - Jeudi 7 juin - 16.30-18.30

Animateurs : Jean-Paul Morniroli (ENS Chimie, Lille), Martin Hytch (CEMES, Toulouse)

Descriptif

Conférenciers :
  • 16:30-17:00 - invité - Emmanuel Bouzy (LETAM, Metz)
    Cartographie d'orientations par MET
  • 17:00-17:30 - invité - Florent Houdellier (CEMES, Toulouse)
    CBED quantitatif pour la mesure de la déformation de couches épitaxiées
  • 17:30-17:50 - Laurent Clément (NXP Semiconductors, Crolles)
    Quantitative strain measurement in 45-65nm CMOS transistors by energy-filtered convergent beam electron diffraction at low temperature
  • 17:50-18:10 - Armand Béché (LEMMA, CEA Grenoble)
    Mesure de contraintes et deformations sur des lignes de silicum contraintes
  • 18:10-18:30 - Ludovic Largeau (LPN, Marcoussis)
    Détermination de l’asymétrie de déformation dans le plan de GaAs (001) par diffraction électronique en faisceau convergent

Approches 3D en imagerie tissulaire et intra-vitale
Symposium Biologie / Matière molle - Jeudi 7 juin 16.30-18.30
(Organisé sous les auspices du Cercle Français de Pathologie Ultrastructurale)

Animateurs : Marek Haftek (Université Lyon 1), Jean-Luc Coll (IAB, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 16:30-17:05 - invité - Jacques Dubochet (LAU, Lausanne, Suisse)
    Comment "lire" les images de la cryo-microscopie électronique
  • 17:05-17:40 - invité - Danièle Spehner (IGBMC–INSERM, Illkirch)
    Analyse tridimensionnelle de la cellule par tomographie électronique
  • 17:40-18:05 - invité - Véronique Josserand (Institut Albert Bonniot, Grenoble)
    Imagerie optique du corps entier du petit animal en 2 et 3D
  • 18:05-18:17 - Olivier Lambert (CBMN, Talence)
    Etude des jonctions adhérentes interendotheliales : approche par cryo-microscopie électronique et vidéomicroscopie de fluorescence sur membranes modèles et biologiques
  • 18:17-18:30 (et P15-2) - Stéphane Woerly (CERMAV, Grenoble)
    Étude multi-échelle en microscopies d'un hydrogel glycosylé implanté dans le cerveau du rat

Posters

  • P15-1 - Amélie Leforestier (LPS, Orsay)
    Caenorhabditis elegans vu par cryo-microscopie électronique de sections vitreuses (CEMOVIS) : analyse du collagène cuticulaire et mise en évidence d'un processus d'auto-assemblage de type cristal liquide lors de la sécrétion du collagène par l'hypoderme

Matériaux fonctionnels - I
Dispositifs électronique, optiques, mécaniques
Symposium Physique / Matériaux - Vendredi 8 juin - 8.30-10.30

Animateurs : Roland Pantel (STMicroelectronics, Crolles), Philippe Venneguès (CRHEA, Sophia Antipolis)

Descriptif

Conférenciers :
  • 8:30-9:00 - invité - Gilles Patriarche (LPN, Marcoussis)
    Etude de la croissance de nanofils de semiconducteurs III-V
  • 9:00-9:15 - Pierre David Szkutnik (L2MP, Marseille)
    Formation de nanocristaux de Ge sur SiO2 par démouillage : application à des mémoires non volatiles
  • 9:15-9:30 - Véronique Madigou (L2MP, Toulon)
    Caractérisation par microscopie électronique haute résolution de nanofeuillets de Bi3.25La0.75Ti3O12
  • 9:30-10:00 - invité - Laurens Kwakman (NXP Semiconductors - Crolles)
    Transmission Electron Microscopy for characterization of nanometer scale CMOS devices
  • 10:00-10:15 - Patricia Donnadieu (SIMAP, Grenoble)
    A combined FEG-SEM and TEM study of silicon nanodot deposit
  • 10:15-10:30 - Christian Turquat (L2MP, Toulon)
    Investigation of copper-7,7',8,8'-tetracyanoquinodimethane as memory material for resistive switching memories

Posters

  • P10-1 - Marie Cheynet (SIMAP, Grenoble)
    Investigation of "low-k" material using EFTEM, Z-contrast imaging and low-loss spectroscopy
  • P10-2 - Radoslaw Chmielowski (Université du Sud Toulon-Var, La Garde)
    Caractérisation par TEM de bicouches oxyde ferroélectrique / électrode oxyde Bi3.25La0.75Ti3O12 / Sr4Ru2O9
  • P10-3 - Antoine Demolliens (L2MP, La Garde)
    Analyses microstructurales de mémoires non volatiles et métrologie des couches ultraminces par microscopie électronique en transmission
  • P10-4 - Abdelkhalek Kammouni (Université Paul Cézanne, Marseille)
    Effet de la température d’entrée dans le domaine bainitique sur le taux d’austénite résiduelle dans des aciers TRIP
  • P10-5 - Maxim Korytov (CRHEA, Valbonne)
    Apport de l’amincissement ionique basse tension pour la préparation d’hétérostructures épitaxiées de semi-conducteurs
  • P10-6 - Sabine Lay (SIMAP, St Martin d'Hères)
    Etude des interfaces prismatiques WC/Co dans les alliages WC-Co
  • P10-7 - Amélie Lintanf (SIMAP, Saint Martin d'Hères)
    Ta2O5 thin films for integrated circuits applications elaborated by electrostatic spray deposition: SEM and TEM characterizations
  • P10-8 - Frédéric Pailloux (LMP, Poitier)
    Observation in-situ de l’évolution de nanotubes dans GaN, sous irradiation électronique
  • P10-9 - Frédéric Pailloux (LMP, Poitier)
    Analyse de défauts lacunaires linéaires créés par implantation d’hélium dans GaN
  • P10-10 - Elena Igorevna Suvorova-Buffat (EPF Lausanne)
    Structure of Ce doped Na0.5La0.5MoO4 single crystals
  • P10-11 - Philippe Vennéguès (CRHEA, Valbonne)
    Etude par microscopie électronique en transmission de films non-polaires de ZnO déposés sur saphir plan R par épitaxie par jets moléculaires
  • P10-12 - Guillaume-Yangshu Wang (ICMPE, Vitry sur Seine)
    Alliages granulaires de Cu80Fe10Ni10 préparés par hypertrempe, étude micro-structurale par EFTEM et EDX

Nanoparticules et colloïdes organiques ou hybrides
Symposium Biologie / Matière molle - Vendredi 8 juin 8.30-10.30

Animateur : Marc Schmutz (ICS, Strasbourg)

Descriptif

Conférenciers :
  • 8:30-9:10 - invité - Jean-Luc Putaux (CERMAV, Grenoble)
    Morphologie et structure de nanoparticules composites et multi-compartimentées observées par cryomicroscopie électronique
  • 9:10-9:50 - invité - Matthias Ballauff (Université de Bayreuth, Allemagne)
    Cryogenic transmission electron microscopy and small-angle scattering: The structure of colloidal gels revisited
  • 9:50-10:10 - Christopher Parmenter (University of Warwick, Coventry)
    Cryo-electron microscopy study of asymmetric PEG-b-PMMA block-copolymers
  • 10:10-10:30 - Emilie Pouget (Eindhoven University of Technology)
    Etude 3D par cryo-TEM “résolue en temps” de la cristallisation de CaCO3 sur un template organique auto-assemblé

Posters

  • P16-1 - Nicole Montesanti (CERMAV, St Martin d'Hères)
    Cristallisation de courtes chaînes d'amylose en solution diluée

Matériaux fonctionnels - II
Dispositifs magnétiques et thermoélectriques
Symposium Physique / Matériaux - Vendredi 8 juin - 11.00-12.45

Animateurs : Pascale Bayle-Guillemaud (DRFMC, CEA Grenoble), Etienne Snoeck (CEMES-Toulouse)

Descriptif

Conférenciers :
  • 11:00-11:30 - invité - Nicolas Rougemaille (Institut Néel, Grenoble)
    Microscopie d'électrons lents polarisés en spin pour l'imagerie de systèmes magnétiques de faible dimensionnalité
  • 11:30-11:45 - Aurélien Masseboeuf (LEMMA, CEA Grenoble)
    Étude de couches minces FePd par Microscopie de Lorentz
  • 11:45-12:00 - Katia March (LPS, Université Paris-Sud, Orsay)
    Interfaces de jonctions tunnel magnétiques épitaxiées CoFe/MgO/CoFe (001)
  • 12:00-12:15 - Laurence Latu-Romain (LITEN, CEA Grenoble)
    Croissance et caractérisations de nanofils Si, Si/SiGe pour la thermoélectricité
  • 12:15-12:30 - Jean-Pierre Ayoub (L2MP, Marseille)
    Etude de la précipitation d'agrégats de Ge3Mn5 dans des couches minces de GeMn déposées par épitaxie jets moléculaires

Posters

  • P11-1 - Etienne Snoeck (CEMES, Toulouse)
    Modification par implantation ionique du couplage d’échange dans des jonctions tunnel magnétiques épitaxiales Fe/MgO/Fe

Auto-assemblage, auto-organisation, cristaux liquides
Symposium Biologie / Matière molle - Vendredi 8 juin 11.00-12.45

Animateur : Jean-Luc Putaux (CERMAV, Grenoble)

Descriptif

Conférenciers :
  • 11:00-11:35 - invité - Philippe Mésini (ICS, Strasbourg)
    Nanotubes de diamides auto-assemblés en solvants organiques: études structurales et utilisation comme gabarits
  • 11:35-12:10 - invité - Volkert de Villeneuve (Van't Hoff Laboratory, Utrecht, Hollande)
    Confocal microscopy of geometrically frustrated hard sphere crystals
  • 12:10-12:30 - Frédéric Gobeaux (Université Pierre et Marie Curie, Paris)
    Auto-assemblage du collagène en phases denses : du cristal liquide au gel fibrillaire
  • 12:30-12:50 - Samira Elazzouzi-Hafraoui (GMCM, Université Rennes 1)
    Auto-organisation de microcristaux de cellulose de coton en suspension dans l'eau ou dans les solvants organiques apolaires

Posters

  • P17-1 - Joëlle Léonil (INRA, Rennes)
    La caséine kappa : quel rôle dans la structuration de la micelle de caséines ?


Ateliers

Six ateliers de formation et de perfectionnement sont organisés durant les deux journées précédent le colloque :

Ces ateliers sont prévus sur deux ou trois demi-journées (le lundi 4 juin 2007 et le mardi 5 juin 2007) pour des petits groupes de 5 à 20 personnes. L'inscription à un atelier se fait en même temps que l'inscription au colloque.

Cette liste peut encore évoluer : si vous êtes intéressé pour organiser un atelier, prenez rapidement contact avec les organisateurs du colloque. Nous pouvons mettre à votre disposition les locaux ou les moyens matériels dont vous avez besoin.

La SFµ est un organisme de formation agréé sous le n°11752773875, déclaré à la préfecture région Ile-de-France le 11/02/97.

Méthode de précession pour la diffraction électronique
Animateurs : Holger Klein et Maria Bacia (Institut Néel, Département MCMF, UJF-CNRS Grenoble)

Cet atelier a comme objectif de présenter de façon théorique et pratique la diffraction électronique en mode précession. Il s’adresse aux utilisateurs de MET (chercheurs, thésards et ITA) qui souhaitent découvrir les possibilités de résolution de structures cristallines à partir de la diffraction électronique. La première demi-journée (lundi après-midi) sera consacrée à une introduction théorique du principe de la diffraction électronique en précession et à la présentation de quelques résultats récents obtenus avec cette technique. La deuxième demi-journée donnera l’occasion de faire des expériences en binômes sur le Philips CM300ST équipé du système "spinning star" et de faire des exploitations de données ou des simulations sur PC.

Introduction théorique (lundi après-midi) :

  • principe de la diffraction en mode précession et comparaison avec la diffraction en axe de zone,
  • utilisation pour la détermination du groupe d’espace,
  • utilisation pour l’acquisition des intensités diffractées pour la résolution de structures,
  • résultats récents obtenus à l’Institut Néel (département MCMF).

Travaux pratiques en binômes (mardi matin) :

  • expérimentation sur le MET Philips CM300ST équipé du "spinning star" et d’une caméra CCD GATAN Slowscan,
  • simulation de clichés de diffraction en précession,
  • exploitation de données pour la détermination du groupe d’espace et/ou la résolution de structure atomique.

HorairesDu lundi 4 juin à 14h00 au mardi 5 juin à midi (deux demi-journées)
LieuInstitut Néel, CNRS, avenue des Martyrs
Participants4 binômes
AppareillageTEM Philips CM300ST équipé de "spinninig star" et CCD GATAN Slowscan
Imagerie en durée de vie de fluorescence (FLIM)
Animateur : Alexeï Grichine (Institut Albert Bonniot, Université de Grenoble)

L’atelier "microscopie de fluorescence résolue dans le temps" est orienté vers les personnes (étudiants, ITA ou chercheurs) souhaitant utiliser l’approche FLIM dans le domaine temporel ou développer cette technique sur la base d’un microscope confocal et/ou biphotonique. L’application de FLIM pour l’étude des interactions moléculaires in vivo (FRET) ou la caractérisation du microenvironnement des sondes fluorescentes ainsi que la combinaison de FLIM avec la spectroscopie à corrélation de fluorescence (FCS) ou le déclin d’anisotropie de fluorescence (FAD) seront considérés d’un point de vue théorique et pratique.

Le programme comportera 2 heures de cours théorique suivies d’une discussion :

  • rappel sur les principes de fluorescence résolue dans le temps,
  • méthode de comptage de photons uniques corrélés dans le temps/espace (T(S)CSPC) en microscopie confocale, biphotonique ou plein champ,
  • détection de FRET par FLIM in vivo et améliorations de la spécificité de détection,
  • mesures en mode TCSPC de la FCS 2P et FAD.

4 heures de travaux pratiques seront ensuite dédiées à :

  • la caractérisation de la réponse instrumentale du système pour la déconvolution des déclins de fluorescence,
  • les mesures de durée de vie de fluorescence des sondes en solution et dans les cellules,
  • l'étude par FRET-FLIM des protéines fluorescentes chimériques dans les cellules vivantes,
  • la comparaison de l’efficacité FRET mesurée par différentes méthodes.

HorairesDu lundi 4 juin à 14h00 au mardi 5 juin à midi (deux demi-journées)
LieuPlateforme « Microscopie optique - Imagerie cellulaire », Institut Albert Bonniot
ParticipantsUn seul groupe de 4 à 5 personnes
AppareillageMicroscope biphotonique Zeiss LSM510 Meta NLO, Laser fs Ti:Sa "Tsunami" Spectra-Physics, module TCSPC multidétecteurs Becker & Hickl / Hamamatsu
Prés-requisExpérience en microscopie confocale ou multiphotonique, connaissances de base des techniques de fluorescence (FRET, FCS, …)
Introduction au mode STEM en microscopie électronique
Animateurs : Jean-Luc Rouvière (DRFMC, CEA Grenoble) et Pierre-Henri Jouneau (DRFMC, CEA Grenoble)

L'objectif de cet atelier est d'introduire le mode d'imagerie par balayage en transmission (STEM) tant du point de vue théorique que pratique, en montrant l'utilisation qui en est fait dans le cadre de la plateforme de nano-caractérisation du CEA-Minatec. L'atelier se déroulera sur 3 demi-journées et comportera environ 3 heures de cours théoriques et 8 heures de travaux pratiques sur un microscope balayage ZEISS Ultra 55 équipé d’un détecteur STEM et sur deux microscopes en transmission (FEI TITAN 300kV et JEOL 2010 FEF 200kV). Le microscope FEI TITAN devrait être équipé d’un correcteur d'aberration sonde dont le fonctionnement sera présenté. Les points suivants seront abordés :

  • la formation et les réglages de la sonde (systèmes à 2 ou 3 condenseurs),
  • les différents types de détecteurs annulaires,
  • le ronchigramme,
  • les différentes utilisations du mode STEM : imagerie chimique en basse résolution, STEM-EELS, STEM-EDX, STEM-CBED, STEM haute résolution,
  • l'utilisation du correcteur d'aberration sonde,
  • la simulation d'images STEM haute résolution,
  • la détermination de la taille de la sonde.

L’après midi et le matin du 5 juin seront consacrés aux travaux pratiques (par groupes de 5 à 6 personnes):

  • 2h sur le FEI TITAN 300 kV,
  • 2h sur le JEOL 200 kV,
  • 2h sur le STEM dans un MEB,
  • 2h sur la théorie, en particulier la simulation de STEM haute résolution.

Ce programme pourra être adapté en fonction des souhaits des participants (à préciser lors de l'inscription).

HorairesDu lundi 4 juin à 9h00 au mardi 5 juin à midi (trois demi-journées)
LieuCEA-Minatec
Participants10 à 12 personnes
Préparation d'échantillons pour les microscopies AFM, MEB et MET : du surfaçage à la cryo-coupe
Animateurs : Frédéric Gilleron (Leica Microsystems France), Helmut Gnaegi (Diatome) et Isabelle Paintrand (CERMAV-CNRS)

Le but de cet atelier est de faire connaître les multiples possibilités offertes par l'ultramicrotomie. Cette technique utilisée depuis longtemps pour la préparation de coupes ultrafines (70/90 nm) observées au MET est aussi appropriée pour préparer des échantillons qui seront imagés en AFM ou en MEB. L'atelier se déroulera sur 2 demi-journées et deux ultramicrotomes UC6 (Leica), dont un équipé du système cryogénique FC6 (Leica), permettront aux animateurs d'effectuer des démonstrations sur les échantillons des stagiaires. La société Veeco mettra à la disposition des stagiaires un microscope AFM pour observer les surfaçages.

Les techniques de préparation suivantes seront abordées :

  • surfaçage rapide de tous matériaux pour la microscopie à balayage,
  • surfaçage spécifique à l’observation en AFM (à température ambiante, et en mode Cryo ),
  • coupes à température ambiante de tous types de matériaux (y compris ceux qui paraissent trop durs …),
  • coupes en mode cryo des matériaux mous.

Afin de mieux cibler l'atelier, les stagiaires peuvent préciser leurs besoins lors de l'inscription, en indiquant le type de matériel et de microscopie qui les intéressent.

HorairesLe lundi 04 juin à partir de 14h et le mardi 05 juin à partir de 9h
LieuLes séances de démonstrations auront lieu au CERMAV
Participants8 stagiaires par demi-journée
Nano-usinage et imagerie par faisceau d'ions focalisé (FIB)
Animateurs : Robert Truche (LETI, CEA Grenoble), Marco Cantoni (EPF Lausanne) et Steve Reyntjens (FEI Company)

Le but de cet atelier est de faire connaître les multiples possibilités offertes par l’instrument FIB (focused ion beam = faisceau d'ions focalisé). Cette technique relativement récente était principalement utilisée dans l’industrie des semi-conducteurs. Elle est devenue un outil puissant pour la recherche en micro et nano technologie. Un faisceau d’ions focalisé permet à la fois d’usiner, d’imager, de modifier une structure et d’effectuer des dépôts (Pt,W,C,SiO2, etc.) avec grande précision. En combinant l’utilisation des faisceaux du MEB et du FIB, il est possible d’analyser et de caractériser un échantillon par toutes les méthodes classiques de la microscopie électronique à balayage en 3 dimensions.

Cette technique est idéale pour :

  • L’analyse de défauts et la modification des semi-conducteurs,
  • La préparation des échantillons pour la microscopie à transmission (MET),
  • La caractérisation des matériaux en 2D et 3D.

Les sujets suivants seront abordés :

  • Historique, principes de base, canon ionique, interaction ion-matière imagerie ionique, imagerie ionique avec He,
  • Les modes de fonctionnement : imagerie, attaque, dépôt,
  • Les machines à 2 faisceaux (électron & ion),
  • Les applications « historiques » : micro/nano-usinage, analyse de defaults (cross-sectioning), réparation de chip etc,
  • La préparation des lames pour la MET : la méthode H-bar, les différentes technique de lift off : externe ou in-situ,
  • Analyse structurale en 3D, reconstruction 3D en imagerie, cristallographie (EBSD) et analyse chimique (EDS),
  • Techniques accessoires : in-situ SEM-STEM, …

HorairesDu lundi 4 juin à 9h00 au mardi 5 juin à midi (trois demi-journées)
LieuCEA-Minatec
ImageJ pour l'analyse et le traitement des images de microscopie
Animateurs : Jérôme Mutterer (IBMP, Strasbourg) - jerome.mutterer@ibmp-ulp.u-strasbg.fr

ImageJ, un logiciel multiplateforme, libre, gratuit et extensible :

  • présentation et installation d'ImageJ
  • fonctions de base : amélioration d'image, débruitage
  • opérations entre images : superposition, moyenne, correction d'illumination, etc
  • calibration spatiale et de densité
  • détection d'objets, mesures, comptages
  • modules additionnels utiles pour le microscopiste

Extension du logiciel par des macros personnalisées :

  • enregistrement et édition de macrocommandes
  • interaction avec l'utilisateur
  • accès au système de fichiers, traitement par lots
  • personnalisation de l'interface, création d'outils
HorairesDu lundi 4 juin à 14h00 au mardi 5 juin à midi (deux demi-journées)
Lieuà préciser
Participantsselon capacité de la salle info (une personne par poste) ~ 20 personnes

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